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ZYGO表面測量的光學方法 表面形貌測量是了解材料特性的一個方面。在眾多測量技術中，光學方法因其非接觸特性而受到關注。ZYGO Nexview NX2采用的白光干涉技術，是光學測量方法的一種。

ZYGO Nexview NX2光學干涉測量 在表面測量領域，光學方法提供了觀察樣品微觀形貌的一種途徑。ZYGO公司的Nexview NX2設備采用白光干涉技術，能夠在非接觸條件下獲取樣品表面的三維信息。

ZYGO 在微電子封裝翹曲中的關鍵作用 微電子封裝技術不斷向三維集成、高密度互連方向發展，封裝體的翹曲（Warpage）與焊料凸塊/銅柱的共面性（Coplanarity）成為影響封裝可靠性、成品率及最終組裝良率的關鍵因素。

ZYGO 在涂層附著力與失效分析中的作用 涂層的附著力是評價其防護、裝飾或功能性能的關鍵指標。涂層失效往往始于界面或涂層內部的缺陷。

ZYGO 實驗室比對與能力驗證 在建立和維持一個可靠的表面計量實驗室過程中，定期進行實驗室間比對（Inter-laboratory Comparison, ILC）或能力驗證（Proficiency Testing, PT）是評估測量一致性、發現系統偏差、確保數據國際可比性的核心手段。

ZYGO 未來升級與擴展可能性 投資一臺高質量的測量設備，不僅關注其當前性能，也需考量其適應未來技術發展和應用需求變化的能力。ZYGO ZeGage Pro光學輪廓儀平臺通常設計有一定的模塊化和可擴展性，為用戶預留了通過升級硬件模塊、更新軟件系統來提升功能、拓展應用邊界的可能性，從而保護長期投資價值。