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ZYGO光學元件面形檢測 光學元件的面形精度影響光學系統的成像質量。對面形誤差進行檢測，是光學制造中的重要環節。

ZYGO半導體工藝中的測量 半導體制造對工藝控制有嚴格要求，表面測量是工藝監控的重要環節。ZYGO Nexview NX2白光干涉儀在半導體工藝中可用于測量晶圓表面的薄膜厚度、圖形結構、缺陷等特征，為工藝開發和質量管理提供測量數據。該設備在半導體行業有應用案例。

ZYGO表面粗糙度量化分析 表面粗糙度是評價表面質量的重要參數。對粗糙度進行量化分析，有助于理解表面特性與功能性能的關系。

ZYGO非接觸式測量方案 在表面測量中，非接觸式方法因其不損傷樣品的特性而受到關注。ZYGO Nexview NX2采用光學干涉原理，實現了對樣品表面的非接觸三維測量。該方案在精密零件檢測、光學元件評估、半導體工藝監控等場景中有應用實例，為表面質量控制提供了測量選擇。

ZYGO三維表面形貌觀察 對材料表面三維形貌的觀察，有助于了解表面特征與性能之間的關系。ZYGO Nexview NX2白光干涉儀通過光學方法，能夠獲取樣品表面的三維高度信息，為表面形貌分析提供了觀察工具。該設備在材料研究、質量檢測等領域有應用實例。

ZYGO白光干涉技術的應用 白光干涉技術是基于光波干涉原理的表面測量方法。ZYGO Nexview NX2設備將這一技術應用于實際測量，為觀察樣品表面微觀形貌提供了工具。該技術在半導體、光學、精密制造等行業有應用案例，能夠為表面質量評估提供數據參考。