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技術文章
TECHNICAL ARTICLES在人工智能與高性能計算快速發展的今天，共封裝光學器件（CPO）技術正成為突破數據傳輸瓶頸的關鍵。CPO將光學引擎直接集成到交換芯片中，顯著提升了帶寬密度和能源效率。然而，這項前沿技術的實現，對光學元件的制造精度提出了極gao要求。突破CPO制造的技術壁壘CPO中的波導、光纖和耦合接口需要達到納米級加工精度，傳統測量設備難以滿足其嚴格的公差要求。SensofarSneox光學輪廓儀以其卓yue的測量性能，為這一技術難題提供了wan美解決方案。設備采用50倍鏡頭進行三維輪廓測量，...
徠卡光學顯微鏡是光學觀測領域的精密儀器，憑借優異的光學系統設計和穩定的機械結構，廣泛應用于工業檢測、生物實驗、材料分析等場景。掌握其結構原理與標準化操作規范，是保障觀測精度和延長設備壽命的核心前提。本文將系統拆解徠卡光學顯微鏡的組成結構及工作原理，并梳理全流程操作規范。一、徠卡光學顯微鏡的核心結構與工作原理徠卡光學顯微鏡主要由光學系統、機械系統和照明系統三大部分組成，各系統協同工作實現樣品的放大成像。1.光學系統：成像的核心模塊光學系統是決定成像質量的關鍵，主要包含物鏡、目鏡...
在材料科學的微觀世界里，一項突破性的發現，往往始于對材料結構“見微知著”的洞察。近期，一項關于高性能壓電陶瓷PZT的研究取得了重要進展，而在這場深入納米尺度的探索中，澤攸科技ZEM系列臺式掃描電鏡憑借其zhuo越的性能，成為了研究人員bu可或缺的“火眼金睛”。研究背景：從“束腰”現象到淬火工藝的啟示PZT（鉛鋯鈦酸鹽）陶瓷是壓電應用領域的核心材料。然而，其菱面體相所表現出的異常“束腰型”電滯回線，限制了性能的進一步提升。先前研究指出，通過高溫淬火工藝可以消除這種“束腰”現象，...
在材料科學、納米技術、生物醫學等研究領域，掃描電子顯微鏡（SEM）是觀察樣品表面微觀形貌的核心分析工具。澤攸臺式掃描電鏡作為國產高級電鏡品牌，通過技術創新實現了傳統落地式電鏡功能的小型化、智能化，在保持高分辨率的同時顯著降低了設備成本和操作門檻。然而，許多用戶對臺式掃描電鏡與傳統電鏡的技術差異、核心工作原理以及澤攸電鏡的獨特技術路徑缺乏系統認知，容易在樣品制備、參數設置、圖像優化等環節出現操作偏差。理解它的電子光學系統設計、信號探測機制、真空系統特點以及澤攸電鏡在電子槍、探測...
在半導體制造、航空航天、生物醫學等高精度領域，表面形貌的微小差異往往決定著產品的性能與可靠性。白光干涉儀作為一種基于光學干涉原理的非接觸式測量儀器，憑借其納米級分辨率和三維形貌重建能力，成為現代精密制造與材料科學的核心工具。本文將從原理、技術突破、應用場景及發展趨勢四方面，解析這一光學測量技術的奧秘。一、從單色光到白光：干涉測量的革命性突破傳統激光干涉儀利用單色光的穩定波長實現高精度測量，但其相干長度較長，導致對被測表面平整度要求較高，且難以區分不同高度的干涉信號。白光干涉儀...
在追求微觀世界精確數據的道路上，科研人員與工程師們常常陷入兩難：是追求數據的全面性，還是保證檢測的高效性？尤其當面對具有重復性結構的樣品時，傳統手動測量方式已成為瓶頸。Sensofar推出的Slynx2光學輪廓儀，其全新的自動化流程模塊（APM），正是為了打破這一瓶頸，將繁瑣的測量任務轉化為高效、可靠的自動化流程。01精準定義，一鍵執行：APM的工作哲學APM的核心，在于將專家的測量知識轉化為可重復執行的標準化程序。用戶無需重復繁瑣的操作，只需在直觀的軟件界面中定義好測量路徑...
在掃描電子顯微鏡的微觀世界里，科研人員常常會遇到一個令人困惑的現象：當觀察陶瓷、高分子聚合物等絕緣樣品時，圖像會出現異常亮區、扭曲漂移，甚至瞬間的“閃白光”。這些“幽靈閃光”背后，究竟隱藏著怎樣的物理奧秘？電荷積累效應的物理本質掃描電鏡通過發射高能電子束掃描樣品表面，通過檢測二次電子和背散射電子信號來成像。當電子束轟擊絕緣樣品時，注入的電子無法像在導電樣品中那樣快速導出，從而在局部形成負電荷區。這些累積的電荷會產生靜電場，嚴重干擾后續電子束的掃描路徑和信號電子的軌跡，導致圖像...
在精密制造領域，刀具的質量檢測直接關系到加工零件的精度和表面質量。Sneox五軸3D光學輪廓儀的出現，為刀具檢測提供了一種全新的高效測量方案。高精度旋轉平臺，穩定可靠的硬件支撐儀器的核心是它的五軸旋轉平臺，配備高精度電動旋轉A軸，支持360°無限旋轉，定位重復性達到驚人的1弧秒。電動B軸的工作范圍為-30°至110°，定位精度為0.5弧分，并配備限位開關確保安全。同時，系統集成的System3R夾緊系統進一步保證了測量的穩定性。突破技術局限，精準測量微小特征Sneox五軸系統...