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技術文章
TECHNICAL ARTICLES澤攸ZEM20臺式掃描電鏡雖結構緊湊，但其成像功能卻較為全面，能夠通過不同的物理信號獲取樣品信息，從而滿足多元化的分析需求。理解其成像模式是充分發揮其性能的關鍵。二次電子（SE）成像是觀察樣品表面形貌的主要方式。ZEM20的二次電子探測器對樣品表面微觀起伏非常敏感。當電子束掃描樣品時，激發的二次電子數量會隨樣品表面的傾斜角度而變化，從而在圖像上形成明暗對比，呈現出豐富的立體感。這種模式非常適合觀察材料的斷口結構、表面鍍層、纖維形態、磨損痕跡等，是材料科學和失效分析中常用的手段...
臺式掃描電子顯微鏡（DesktopSEM）作為傳統大型SEM的重要補充，以其便捷性和靈活性在多個領域展現出應用價值。澤攸ZEM20便是該類別中一個值得關注的型號，它集成了多項實用技術，為用戶提供了納米尺度觀測的解決方案。產品細節與用材方面，ZEM20在設計上考慮了用戶的操作體驗與設備的長期穩定性。其鏡體部分通常采用金屬材料構建，確保了真空腔體的結構穩定性和抗干擾能力。樣品室設計注重實用性，提供了適中的樣品空間，并配備了可電動控制的樣品臺，允許用戶在低真空模式下快速更換樣品，提...
Sneox的應用場景覆蓋石油、能源、電子/電池等多個領域，在精密制造中，可檢測模具表面粗糙結構與增材制造零件的三維輪廓，通過多焦面疊加技術還原86°斜率表面形貌，為工藝優化提供數據支持。半導體封裝領域，借助顯微定位夾具定位芯片引腳，采用相位差干涉模式測量金線高度，軟件自動分析虛焊缺陷，檢測精度達0.5μm。光學元件加工中，針對鏡片等超光滑表面，選用相位差干涉模式獲取亞納米級數據，搭配環境控制艙避免溫濕度影響，保障面型測量可靠性。柔性電子領域，真空吸附夾具固定薄膜電路，掃描2m...
Sneox采用臺式一體化設計，尺寸約600mm×500mm×750mm，重量控制在70kg以內，普通操作臺即可放置，節省空間。機身外殼選用高強度鋁合金，經陽極氧化處理，兼具抗腐蝕與防光反射能力，減少環境對光學系統的干擾。核心光學系統密封在防塵防霧艙內，避免灰塵水汽影響成像質量，鏡頭接口標準化，兼容六種常用物鏡，更換無需復雜校準。樣品臺為設備關鍵結構之一，采用精密滾珠導軌，表面覆蓋耐磨涂層，移動順滑且長期保持精度。其X、Y軸移動范圍均為100mm，Z軸50mm，搭配高精度光柵尺...
SensofarSneox共聚焦白光干涉光學輪廓儀的操作設計，充分兼顧了新手易用性與專業需求。其核心操作載體SensoSCAN軟件采用直觀界面布局，左側功能欄清晰劃分測量模式選擇、參數設置等模塊，右側實時成像區域可同步顯示樣品狀態，底部狀態欄則實時更新掃描進度與存儲路徑，讓操作過程全程可視。導航預覽功能大幅降低定位難度，正式測量前點擊預覽，設備自動生成低倍全景圖，用戶框選目標區域后，軟件會自動調整鏡頭位置對準測量點，更換2.5x至100x物鏡時，預覽圖還能同步顯示視場范圍，避...
膀胱癌是全球常見的惡性腫瘤之一，其中絕大多數初診患者屬于非肌層浸潤性膀胱癌（NMIBC）。目前，經尿道切除術后輔以卡介苗（BCG）膀胱內灌注免疫治療是中高風險NMIBC患者的“金標準”方案。BCG通過激活局部免疫反應，誘導細胞毒性T淋巴細胞清除腫瘤細胞，有效降低復發與進展風險。然而，傳統BCG療法存在一個顯著缺陷：灌注的BCG會隨著患者排尿在短時間內（約2小時）被迅速清除，無法在膀胱內維持足夠長的作用時間，從而嚴重限制了其免疫激活效果和最終療效。現有的延長滯留策略，如粘附性水...
徠卡顯微鏡作為精密光學儀器，其成像質量和使用壽命高度依賴于日常的光學系統保養。規范的保養不僅能確保圖像始終清晰銳利，更能保護昂貴的光學部件免受不可逆的損傷。以下是徠卡顯微鏡光學保養的核心要點與科學流程。一、保養原則：預防為主，科學清潔光學保養的核心在于“防大于治”。絕大多數污染和劃痕源于不當操作。因此，養成良好的使用習慣是首要任務：使用后立即蓋上防塵罩，避免用手直接觸摸光學玻璃表面，環境應保持清潔、干燥、無震動。當清潔無法避免時，必須遵循“先吹后擦，由內而外”的科學流程。嚴禁...
白光干涉儀是一種基于寬帶光源的精密測量儀器，其核心原理在于利用低相干光的干涉特性，實現對樣品表面形貌或薄膜厚度的高精度、非接觸測量。與單色光干涉不同，白光干涉因其寬光譜特性，使得干涉現象僅在光程差極小范圍內發生，這一特性被廣泛應用于微觀形貌檢測、光學薄膜表征及微結構分析等領域。其關鍵技術正是基于光譜干涉模式的生成與解析。一、光譜干涉的物理基礎當一束白光（寬帶光源）通過分束鏡分為兩束，一束射向參考鏡，另一束射向待測樣品后，兩束光重新匯合并發生干涉。由于白光相干長度極短（通常僅為...