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三維光學(xué)輪廓儀
SENSOFAR共聚焦白光干涉儀
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Sensofar三維共聚焦白光干涉儀 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時(shí)間:2026-01-04
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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Sensofar三維輪廓儀微觀世界多模態(tài)測量利器 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時(shí)間:2026-01-04
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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Sensofar:專注工業(yè),高效檢測 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時(shí)間:2026-01-04
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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Sensofar 輪廓儀:微觀檢測好幫手 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時(shí)間:2026-01-04
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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Sensofar白光干涉儀:高分辨表面形貌測量 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
更新時(shí)間:2026-01-04
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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Sensofar白光干涉儀高分辨表面分析解決方案 Sensofar白光干涉儀采用優(yōu)良的光學(xué)干涉技術(shù),為微納米級(jí)表面形貌測量提供可靠解決方案,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、精密制造和材料科學(xué)研究領(lǐng)域。
更新時(shí)間:2026-01-04
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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