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Sensofar S wide:讓大事業(yè)數(shù)據(jù)賦能產研 在材料、光學等科研領域,研究人員常需要同時掌握樣品的全局狀態(tài)與局部細微變化,Sensofar S wide 的大視野與細節(jié)捕捉能力,能為這類研究提供全面的數(shù)據(jù)支撐,避免傳統(tǒng)設備 “顧此失彼” 的局限。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S-wide
瀏覽量:144
Sensofar S wide:新手的協(xié)作型測量儀 對很多用戶來說,大視野測量設備的操作門檻常讓人卻步,但 Sensofar S wide 在設計時就注重 “簡化操作”,從開機到出結果,核心步驟清晰易懂,即使是初次接觸的新手,也能快速上手。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S-wide
瀏覽量:135
Sensofar S wide:難測樣品也能輕松應對 在光學行業(yè)檢測透明樣品(如大尺寸玻璃蓋板、光學鏡片、透明薄膜)時,傳統(tǒng)設備常因表面反光導致數(shù)據(jù)失真,而 Sensofar S wide 通過專屬光學設計,能輕松應對這類難題,無需額外加裝復雜附件。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S-wide
瀏覽量:140
Sensofar S wide一次掃全大尺寸樣品測量儀 在檢測大尺寸樣品(如電路板、光學鏡片、模具型腔)時,傳統(tǒng) 3D 輪廓儀常因視野有限,需要多次掃描后拼接數(shù)據(jù),不僅耗時久,還可能因拼接偏差影響結果準確性。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S-wide
瀏覽量:128
Sensofar在半導體晶圓薄膜厚度測量中的應用 Sensofar?S?neox 通過 4?in?1 光學技術(共聚焦、白光干涉、多焦面疊加、光譜反射)實現(xiàn)對晶圓薄膜的非接觸、亞納米級厚度測量。以下從測量原理、典型案例、操作流程、數(shù)據(jù)輸出四個維度展開說明。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S?neox
瀏覽量:160
Sensofar光學輪廓儀在光學元件制造中的應用Sensofar光學輪廓儀智能化檢測與分析系統(tǒng) Sensofar?S?neox 將共聚焦顯微、白光干涉和多焦面疊加三大技術融合在同一平臺,實現(xiàn)從超光滑到粗糙表面的全場景測量。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S?neox
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