ZYGO 測量模式解析

產(chǎn)品簡介

ZYGO 測量模式解析
ZYGO Nexview NX2 白光干涉儀集成了多種測量模式，以適應(yīng)不同表面特性的測量需求。了解這些測量模式的工作原理、適用場景及其特點，有助于用戶根據(jù)具體樣品和測量目標選擇最合適的測量方式，從而獲得可靠的測量結(jié)果。

產(chǎn)品型號：Nexview NX2

更新時間：2026-01-15

廠商性質(zhì)：代理商

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zygo

ZYGO光學(xué)輪廓儀 Zygo激光干涉儀

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ZYGO 測量模式解析

ZYGO Nexview NX2 白光干涉儀集成了多種測量模式，以適應(yīng)不同表面特性的測量需求。了解這些測量模式的工作原理、適用場景及其特點，有助于用戶根據(jù)具體樣品和測量目標選擇最合適的測量方式，從而獲得可靠的測量結(jié)果。

設(shè)備提供的測量模式包括垂直掃描干涉模式、相移干涉模式等，每種模式都有其特定的技術(shù)特點和應(yīng)用范圍。

垂直掃描干涉模式是NX2的基礎(chǔ)測量模式之一。該模式利用白光光源的短相干特性，通過垂直方向掃描樣品或物鏡，記錄每個像素點干涉信號強度的變化。當樣品表面某點與參考鏡的光程差為零時，該點處的干涉條紋對比度達到zui

大。通過檢測每個像素點對比度峰值對應(yīng)的掃描位置，可以確定該點的表面高度。VSI模式特別適合測量具有較大高度變化范圍、中等粗糙度的表面，其垂直測量范圍可達數(shù)毫米，垂直分辨率通常在納米級別。這種模式在測量工程表面、加工零件、生物組織等方面有較好的適用性。

相移干涉模式是另一種重要的測量模式。與VSI模式不同，PSI模式使用單色光或窄帶光作為光源，通過精確控制參考鏡的位置，引入已知的相位變化，從而解算出每個像素點的相對相位信息。由于相位計算具有較高的精度，PSI模式在垂直分辨率方面通常優(yōu)于VSI模式，可以達到亞納米甚至更高的水平。但相移干涉的測量范圍受相位解包裹能力的限制，一般只能測量高度變化小于半個波長的相對光滑表面。因此，PSI模式特別適合測量超光滑光學(xué)表面、精密拋光晶圓、高品質(zhì)薄膜等對垂直分辨率要求ji高的應(yīng)用。

在某些應(yīng)用場景中，可能需要結(jié)合使用多種測量模式。例如，對于同時包含光滑區(qū)域和粗糙區(qū)域的樣品，可以在不同區(qū)域分別使用PSI模式和VSI模式進行測量，然后通過軟件將測量結(jié)果融合，以獲得整個表面的完整形貌信息。NX2的軟件平臺通常支持這種多模式測量和數(shù)據(jù)融合功能，為用戶提供了更靈活的測量策略選擇。

除了基本的干涉測量模式外，NX2還可能支持共聚焦成像模式。共聚焦模式通過空間濾波技術(shù)，可以顯著提高圖像的橫向分辨率和對比度，特別適合測量具有陡峭側(cè)壁或高深寬比的結(jié)構(gòu)。在共聚焦模式下，系統(tǒng)通過垂直掃描獲取一系列光學(xué)切片圖像，然后通過分析每個像素點的聚焦清晰度來確定其高度位置。雖然共聚焦模式的垂直分辨率一般不及干涉模式，但其在測量復(fù)雜三維結(jié)構(gòu)方面具有獨特優(yōu)勢。

選擇測量模式時，需要考慮多個因素。首先是樣品表面的特性，包括粗糙度范圍、反射率、材料透明度等。對于光滑表面，PSI模式可能更為合適；對于粗糙表面，VSI模式可能獲得更好的測量結(jié)果。其次是測量目標，如果主要關(guān)注納米級的表面起伏，應(yīng)優(yōu)先考慮高分辨率模式；如果需要測量毫米級的高度變化，則需要選擇大測量范圍的模式。此外，測量速度、環(huán)境穩(wěn)定性要求、樣品制備復(fù)雜度等也是選擇測量模式時需要考慮的因素。

在實際操作中，NX2的軟件通常提供測量模式選擇的指導(dǎo)。用戶可以通過預(yù)覽功能觀察樣品表面的基本情況，軟件會根據(jù)圖像特征推薦合適的測量模式和起始參數(shù)。對于有經(jīng)驗的用戶，也可以根據(jù)樣品特性和測量需求，手動調(diào)整測量模式和相關(guān)參數(shù)。合理的模式選擇是獲得高質(zhì)量測量數(shù)據(jù)的第yi步，需要結(jié)合理論知識和實踐經(jīng)驗進行綜合考慮。

不同測量模式的數(shù)據(jù)處理方式也有所不同。VSI模式主要處理干涉信號的包絡(luò)信息，PSI模式則需要處理相位信息。在數(shù)據(jù)處理過程中，可能需要應(yīng)用不同的濾波算法、去噪方法和相位解包裹技術(shù)。NX2的軟件集成了針對各種測量模式的專用數(shù)據(jù)處理模塊，能夠自動完成從原始數(shù)據(jù)到三維形貌的重建過程。用戶可以根據(jù)需要調(diào)整數(shù)據(jù)處理參數(shù)，以優(yōu)化最終結(jié)果的質(zhì)量。

測量模式的持續(xù)發(fā)展是光學(xué)測量技術(shù)進步的重要體現(xiàn)。隨著新型光學(xué)設(shè)計、先jin探測技術(shù)和智能算法的發(fā)展，測量模式在不斷豐富和完善。多模式融合測量、自適應(yīng)模式選擇、智能參數(shù)優(yōu)化等技術(shù)的發(fā)展，使得現(xiàn)代光學(xué)測量設(shè)備能夠更智能地適應(yīng)多樣化的測量需求。NX2作為這個領(lǐng)域的代表性產(chǎn)品之一，其測量模式的設(shè)計和實現(xiàn)反映了當前技術(shù)發(fā)展的水平。

對于使用NX2的用戶來說，深入理解各種測量模式的特點和適用范圍，有助于充分發(fā)揮設(shè)備的測量能力。通過合理選擇測量模式，優(yōu)化測量參數(shù)，可以針對不同類型的樣品和測量任務(wù)，獲得滿足要求的測量數(shù)據(jù)。這種能力的掌握需要通過系統(tǒng)的培訓(xùn)、實踐經(jīng)驗的積累和持續(xù)的學(xué)習(xí)來實現(xiàn)。

總之，ZYGO Nexview NX2提供的多種測量模式為用戶應(yīng)對不同的表面測量任務(wù)提供了靈活選擇。從垂直掃描干涉到相移干涉，從單模式測量到多模式融合，設(shè)備通過技術(shù)集成和功能創(chuàng)新，嘗試在測量范圍、分辨率、速度和適用性之間尋求平衡。對于從事表面測量工作的技術(shù)人員和研究人員，掌握這些測量模式的原理和應(yīng)用，是有效使用設(shè)備、獲得可靠數(shù)據(jù)的重要基礎(chǔ)。

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