奧林巴斯顯微鏡非接觸式微觀檢測(cè)新選擇

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奧林巴斯顯微鏡非接觸式微觀檢測(cè)新選擇
奧林巴斯 OLS5100 激光共聚焦顯微鏡采用落地式穩(wěn)定結(jié)構(gòu)，機(jī)身底部的防震腳墊能有效減少外界振動(dòng)干擾，讓微觀觀測(cè)更穩(wěn)定。

產(chǎn)品型號(hào)：OLS5100

更新時(shí)間：2025-10-28

廠商性質(zhì)：代理商

訪問(wèn)量：26

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奧林巴斯顯微鏡非接觸式微觀檢測(cè)新選擇

一、藏在細(xì)節(jié)里的可靠設(shè)計(jì)

奧林巴斯 OLS5100 激光共聚焦顯微鏡采用落地式穩(wěn)定結(jié)構(gòu)，機(jī)身底部的防震腳墊能有效減少外界振動(dòng)干擾，讓微觀觀測(cè)更穩(wěn)定。15 英寸觸控操作屏搭配鼠標(biāo)、鍵盤(pán)接口，操作時(shí)無(wú)需頻繁切換設(shè)備，多用戶賬戶管理功能還能保存不同研究人員的操作參數(shù)與分析模板，團(tuán)隊(duì)協(xié)作更順暢。

核心光學(xué)部件選用高透光率石英玻璃，配合多層鍍膜技術(shù)，減少激光能量損失與雜散光干擾。樣品臺(tái)臺(tái)面采用耐磨陶瓷材質(zhì)，表面平整度誤差小于 2μm，不僅抗腐蝕，還能配合加熱樣品臺(tái)在最高 500℃的環(huán)境下使用。內(nèi)部機(jī)械傳動(dòng)采用精密滾珠絲杠與伺服電機(jī)，長(zhǎng)期使用也能保持較好的運(yùn)動(dòng)精度。

二、適配多樣樣品的性能表現(xiàn)

這款設(shè)備采用 405nm 半導(dǎo)體激光光源，縱向分辨率達(dá) 10nm，橫向分辨率達(dá) 100nm，能清晰捕捉納米級(jí)表面起伏。其非接觸式測(cè)量特性，讓柔軟、珍貴或易損傷的樣品檢測(cè)更放心，比如生物醫(yī)學(xué)研究中的膠原蛋白支架，激光掃描不會(huì)損傷材料活性，還能呈現(xiàn)三維孔隙結(jié)構(gòu)。

掃描模式可根據(jù)需求靈活切換：快速掃描幀率達(dá) 10 幀 / 秒，適合初步觀察；精細(xì)掃描能達(dá)到 4096×4096 像素分辨率，滿足高分辨率三維重構(gòu)需求。3D 分析功能可計(jì)算表面粗糙度、體積、臺(tái)階高度等參數(shù)，數(shù)據(jù)能直接導(dǎo)出至 Origin、Matlab 等軟件進(jìn)一步分析。

三、關(guān)鍵參數(shù)與型號(hào)選擇

參數(shù)項(xiàng)	具體數(shù)值
激光波長(zhǎng)	405nm（半導(dǎo)體激光）
縱向分辨率	10nm
橫向分辨率	100nm
樣品臺(tái)承重	5kg
掃描范圍	X/Y 軸最大 150mm×150mm，Z 軸最大 10mm
圖像分辨率	最高 4096×4096 像素

OLS5100 提供多種型號(hào)適配不同場(chǎng)景：OLS5100-SAF 總倍率范圍 54×-17280×，適合半導(dǎo)體晶圓表面檢測(cè)；OLS5100-LAF 最大樣品高度可達(dá) 210mm，針對(duì)大型機(jī)械零件粗糙度分析。

四、簡(jiǎn)單實(shí)用的操作指南

樣品放置：將樣品平穩(wěn)放在陶瓷樣品臺(tái)上，根據(jù)樣品重量確認(rèn)不超過(guò) 5kg 承重上限。

參數(shù)設(shè)置：通過(guò)觸控屏選擇對(duì)應(yīng)型號(hào)的預(yù)設(shè)程序，或手動(dòng)調(diào)整激光波長(zhǎng)與物鏡倍數(shù)。

掃描啟動(dòng)：點(diǎn)擊 “開(kāi)始掃描"，系統(tǒng)自動(dòng)完成對(duì)焦與數(shù)據(jù)采集，可實(shí)時(shí)觀察成像效果。

數(shù)據(jù)導(dǎo)出：掃描結(jié)束后，選擇所需分析參數(shù)生成報(bào)告，直接導(dǎo)出至關(guān)聯(lián)軟件。

五、多領(lǐng)域的應(yīng)用價(jià)值

在精密機(jī)械加工中，它能檢測(cè)刀具磨損與切削表面粗糙度，某汽車(chē)零部件廠商用其分析發(fā)動(dòng)機(jī)活塞表面磨削痕跡，優(yōu)化加工參數(shù)。電子半導(dǎo)體領(lǐng)域可觀察硅晶圓劃痕、測(cè)量 PCB 焊盤(pán)高度，捕捉 5G 電路板銅箔 0.2 微米級(jí)的粗糙度變化。新能源行業(yè)中，能一次性完成 300×300mm 鋰電池集電器的粗糙度分析，避免局部檢測(cè)偏差。奧林巴斯顯微鏡非接觸式微觀檢測(cè)新選擇

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