澤攸臺階儀高精度測量得力助手

產品簡介

澤攸臺階儀高精度測量得力助手
對于需要較高測量精度的場景，澤攸臺階儀憑借其精細的設計和穩定的性能，能提供可靠的測量數據，適合科研機構和高精度制造企業使用。

產品型號：

更新時間：2025-10-21

廠商性質：代理商

訪問量：130

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺式電鏡&臺階儀&原位分析

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對于需要較高測量精度的場景，澤攸 ZY - 1000 臺階儀憑借其精細的設計和穩定的性能，能提供可靠的測量數據，適合科研機構和高精度制造企業使用。

澤攸臺階儀高精度測量得力助手

產品細節

機身設計注重穩定性，底部設有防震腳墊，減少外界振動的影響。操作界面采用觸摸屏設計，可直觀設置各項參數，支持自定義測量程序，方便針對不同樣品保存測量方案。樣品臺配備微米級調節旋鈕，能精準調整樣品的位置，確保測量點對準。測量探頭配有保護蓋，閑置時可有效防塵防潮。

產品性能

該臺階儀的測量分辨率較高，能捕捉到微小的臺階高度變化和表面凹凸細節。采用閉環控制的傳動系統，探頭移動的定位精度較好，多次測量同一位置的偏差較小。它具備數據統計功能，可對多組測量結果進行平均值、最大值、最小值的計算，便于分析樣品的整體狀況。對光學鏡片、半導體晶圓等高精度表面的測量效果較好。

用材講究

測量探頭采用特殊的寶石材料，硬度高且耐磨性強，保證了長期高精度測量的穩定性。設備內部的光學傳感器選用高靈敏度元件，能精確感知探頭的微小位移。樣品臺采用天然花崗巖材質，具備良好的穩定性和抗震性，確保測量過程中樣品臺自身的形變極小。

參數詳情

參數項	具體數值
測量范圍	0 - 1000μm（臺階高度）
分辨率	可滿足高精度臺階測量需求
定位精度	±1μm（樣品臺移動）
數據存儲	可存儲 1000 組測量數據
電源要求	220V±10%，50Hz

廣泛用途

在半導體晶圓制造中，可測量光刻膠臺階、蝕刻深度，為晶圓加工工藝的優化提供數據支持。在光學元件生產中，能檢測透鏡表面的曲率臺階、鍍膜厚度，保障光學元件的成像質量。在精密儀器研發中，可測量微小機械結構的臺階尺寸和表面粗糙度，確保儀器的正常運行。

使用說明

設備需放置在恒溫恒濕的實驗室環境中，避免陽光直射和氣流干擾。使用前對設備進行校準，按照說明書的步驟用標準樣品調整測量精度。放置樣品時，使用專用的樣品座，確保樣品與樣品臺緊密貼合。通過觸摸屏設置詳細的測量參數，包括測量路徑、采樣間隔等，啟動測量后耐心等待完成。測量數據可導出至電腦進行進一步分析，設備使用后需關閉電源，蓋上防塵罩。

澤攸臺階儀高精度測量得力助手

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