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ZYGO 數(shù)據(jù)分析軟件功能 測量數(shù)據(jù)的價(jià)值需要通過分析來挖掘。ZYGO Nexview NX2 白光干涉儀配套的數(shù)據(jù)分析軟件提供了從基本形貌觀察到高級參數(shù)計(jì)算的全套工具,幫助用戶從三維測量數(shù)據(jù)中提取有價(jià)值的表面信息。
更新時(shí)間:2026-01-26
產(chǎn)品型號:Nexview NX2
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ZYGO 環(huán)境影響因素分析 高精度光學(xué)測量對環(huán)境條件較為敏感,環(huán)境因素的變化可能對測量結(jié)果產(chǎn)生不可忽視的影響。ZYGO Nexview NX2 白光干涉儀作為精密測量設(shè)備,其測量精度和穩(wěn)定性受到溫度、振動、氣流、濕度等多種環(huán)境因素的影響。
更新時(shí)間:2026-01-15
產(chǎn)品型號:Nexview NX2
瀏覽量:54
ZYGO 在薄膜厚度測量中的應(yīng)用 薄膜厚度是影響涂層、鍍膜、光學(xué)薄膜等功能性能的關(guān)鍵參數(shù)。準(zhǔn)確測量薄膜厚度及其均勻性,對材料研究、工藝開發(fā)和產(chǎn)品質(zhì)量控制具有重要意義。
更新時(shí)間:2026-01-15
產(chǎn)品型號:Nexview NX2
瀏覽量:105
ZYGO 測量參數(shù)優(yōu)化 在光學(xué)干涉測量中,測量參數(shù)的合理設(shè)置對獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)至關(guān)重要。ZYGO Nexview NX2 白光干涉儀提供了多種可調(diào)整的測量參數(shù),包括掃描范圍、掃描速度、采樣間隔、照明強(qiáng)度、相機(jī)設(shè)置等。
更新時(shí)間:2026-01-15
產(chǎn)品型號:Nexview NX2
瀏覽量:65
ZYGO 的校準(zhǔn)與驗(yàn)證 任何測量設(shè)備的長期可靠使用都依賴于定期的校準(zhǔn)和驗(yàn)證。對于ZYGO Nexview NX2這樣的高精度光學(xué)測量系統(tǒng),建立完善的校準(zhǔn)程序和驗(yàn)證方法,是保證測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性、一致性和可比性的基礎(chǔ)。
更新時(shí)間:2026-01-15
產(chǎn)品型號:Nexview NX2
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ZYGO 在MEMS器件測量中的應(yīng)用 微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)器件具有復(fù)雜的微小三維結(jié)構(gòu),其幾何尺寸和形貌特征直接影響器件性能。對MEMS結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確的三維形貌測量,是器件設(shè)計(jì)驗(yàn)證、工藝優(yōu)化和性能評估的重要環(huán)節(jié)。
更新時(shí)間:2026-01-15
產(chǎn)品型號:Nexview NX2
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